アジアのDGISTの研究チームが、髪の毛よりも薄い光学超音波センサーを開発しました。このセンサーは、空気中を伝わるメガヘルツ（MHz）帯の超音波を正確に検出できます。直接対象物に触れることなく、内部の欠陥を見つけることが可能です。

この研究は、半導体や二次電池の内部欠陥を検出する非破壊検査技術を革新することを目指しています。従来の技術では、対象物に接触する必要がありましたが、この新しいセンサーはその必要がありません。

センサーの開発には、半導体製造プロセスが用いられました。これにより、センサーの薄さと高感度を実現しました。具体的には、センサーの単位面積あたりの応答性が従来の25,000倍に向上しました。

この発見は、非破壊検査の効率を大幅に向上させる可能性があります。特に、製造業における品質管理や安全性の向上に寄与することが期待されています。

今後の課題として、センサーの量産化やコスト削減が挙げられます。これにより、より多くの産業での応用が可能になるでしょう。